Equipamiento:

• Lupa ZEISS Stemi 2000-C
• Cámara SPOT Insight 2 Mp CCD para la lupa microscopio binocular con programario SPOT Advanced (4.0.5)
• Microscopio de luz polarizada NIKON Eclipse 50iPOL, a 30x, 60x i 150x
• Microscopio de luz polarizada NIKON Eclipse 50iPOL, a 30x, 60x i 150x, con un dispositivo acoplado CITL CL8200 Mk5-1
• Microscopio de luz poralizada NIKON Eclipse 50iPOL, a 30x, 60x i 150x, con un detector de rayos X Amptek Axis SDD acoplado
• Cámara NIKON DS-Fi2 con el soporte del programario de tratamiento de imagen NIS-Elements D
• Material para el muestreo de piezas arqueológicas y de canteras
• Material para la preparación de muestras para hacer de análisis de isótopos estables de C y O

Maletí i material per al mostreig i registre de mostres arqueològiques i de pedrera.

Microscopi de llum polaritzada amb la càmera NIKON Eclipse 50iPOL acoblada per a la realització d’estudis de microfotografies.